Pladetykkelsesmikrometre

Skipseter, valser og andre bearbejdningsemner med varierende pladetykkelse kræver stabile, gentagelige målinger – både i mätrum og direkte i produktionen. Pladetykkelsesmikrometre fra Schut er bygget til denne opgave, med en robust C-ramme og flad måleflade der giver pålidelig kontakt på tynde og bøjelige emner uden at deformere materialet.

Konstruktionen sikrer nøjagtig aflæsning ved kvalitetskontrol og løbende procesovervågning, og gør kalibrering enkel i det daglige vedligeholdelsesarbejde. Før valg bør værkstedet kontrollere måleområde, opløsning og målenøjagtighed, så mikrometeret passer til de konkrete materialer og tolerancekrav i produktionen.

Nøjagtighed0.004 mmLength L22 mm 32 mmMeasuring Facesflad/flad flat/flat sfærisk/fladMåleområde0-15 mm 0-25 mmResolution0.01 mmThroat Depth50 mm

Filter

Viser 4 resultater

64-907099
Mikrometer til måling af tunna materiale, amboltflader sfæriskt/plant, 0-15 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 22 mm, levering i træetui
772 kr.
Tilføj til kurv
64-907100
Mikrometer til måling af tunna materiale, amboltflader sfæriskt/plant, 0-25 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 32 mm, levering i træetui
929 kr.
Tilføj til kurv
64-907058
Mikrometer til måling af tunna materiale, plane amboltflader, 0-15 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 22 mm, levering i træetui
772 kr.
Tilføj til kurv
64-907059
Mikrometer til måling af tunna materiale, plane amboltflader, 0-25 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 32 mm, levering i træetui
929 kr.
Tilføj til kurv

Pladetykkelsesmikrometre

Mikrometer til måling af tunna materiale, amboltflader sfæriskt/plant, 0-15 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 22 mm, levering i træetui

Mikrometer til måling af tunna materiale, amboltflader sfæriskt/plant, 0-25 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 32 mm, levering i træetui

Mikrometer til måling af tunna materiale, plane amboltflader, 0-15 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 22 mm, levering i træetui

Mikrometer til måling af tunna materiale, plane amboltflader, 0-25 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 32 mm, levering i træetui

Kurv

Særlige Rabatprodukter

Flere Rabatprodukter

Pladetykkelsesmikrometre

Mikrometer til måling af tunna materiale, amboltflader sfæriskt/plant, 0-15 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 22 mm, levering i træetui

Mikrometer til måling af tunna materiale, amboltflader sfæriskt/plant, 0-25 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 32 mm, levering i træetui

Mikrometer til måling af tunna materiale, plane amboltflader, 0-15 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 22 mm, levering i træetui

Mikrometer til måling af tunna materiale, plane amboltflader, 0-25 mm, nøjagtighed ±0,004 mm, gradering 0,01 mm, hårdmetalmåleflader Ø6,5 mm, halsdybde 50 mm, målefladelængde 32 mm, levering i træetui

Kurv

Venligst send os dine spørgsmål med en e-mail herunder, så skynder vi os at svare!

Særlige Rabatprodukter

Flere Rabatprodukter