Käfer målespidser – Flade målespidser
Käfer flade målespidser til mikrometre giver et bredt, plant kontaktfelt, som fordeler målekraften jævnt og sikrer stabil, reproducerbar kontakt mod emnet – ideelt ved kvalitetskontrol af bløde, tynde eller ujævne materialer, hvor spidse målespidser kan give fejlvisninger. De egner sig godt til måling af plader, folier, profiler og bearbejdede flader i værksted, målerum og produktion.
Den flade udformning giver høj hårdhed og slidstyrke ved gentagen brug og er kompatibel med gængse mikrometre, hvilket sikrer nøjagtig og pålidelig måling ved kalibrering og løbende procesovervågning.
