EDOF (Extra stort skärpedjup), EDR (Extra stort exponeringsomfång), AMR (Automatisk förstoringsavläsning), eFLC (Utökad flexibel ljuskontroll), DPQ (djupmätning)
EDOF og EDR udvider skærpedjup og eksponeringsdynamik markant, hvilket sikrer skarp og detaljeret optisk inspektion selv ved komplekse emnegeometrier i kvalitetskontrol og kalibreringslaboratorier. AMR automatiserer forstørrelsesgenkendelse og reducerer operatørfejl, mens eFLC giver præcis lysstyring ved måling af reflekterende eller uregelmæssige overflader. DPQ-dybdemåling er særligt værdifuld i værksteder og ved procesovervågning, hvor nøjagtig karakterisering af fordybninger, trin og profiler er afgørende for dokumentation og vedligeholdelse.
- Nyhet
43-AM4917MZT4Dino-Lite EDGE PLUS, 1,3 Mpxl, EDOF, DPQ, AMR, EDR, eFLC, metal, polarisator, 440x
10.391 kr. - Nyhet
43-AM4917MT8Dino-Lite EDGE PLUS, 1,3 Mpxl, EDOF, DPQ, AMR, EDR, eFLC, metal, polarisator, 800x
11.390 kr. - Nyhet
43-AM73915MZT4Dino-Lite EDGE, 5 Mpxl, USB 3.0 højhastigheds, eFLC, AMR, EDOF, EDR, DPQ, metal, polarisator, 440x
12.110 kr. - Nyhet
43-AM73915MT8Dino-Lite EDGE, 5 Mpxl, USB 3.0 højhastigheds, eFLC, AMR, EDOF, EDR, DPQ, metal, polarisator, 880x
11.390 kr.
