Dino-Lite EDGE Global Shutter, 2,0 megapikseliä, pitkä etäisyys, mittausominaisuus, automaattinen suurennuksen lukeminen, eFLC, EDR, polarisaatio, metalli

1 283,14 

Kiitos globaalista valonsensoristaan ja pitkän työntymatkan ansiosta AG5515MZTL tuottaa vääristymätöntä reaaliaikaista kuvaa liikkuvista kohteista. Ohjelmistotrigger-toiminto mahdollistaa liikkeen analyysin ja aikavälin tarkkailun. Mallissa on 2 megapikselin sensor, 10x–140x suurennus ja ammattimaiset työkalut, kuten AMR, eFLC ja EDR.

Tuotetunnus (SKU): 43-AG5515MZTL Osasto:
 

Kuvaus

Globaal suljin: Globaali suljin altistaa kaikki pikselit samanaikaisesti poistaakseen rullavan suljimen liikeröyhennyksen.

Korkealaatuinen optiikka: Edge-sarjan optiikka paljastaa hienoisimmatkin yksityiskohdat.

2,0 megapikseliä: 2 megapikselin sensori tallentaa laajan näkökentän 16:9-kuvasuhteella ja tuottaa teräviä kuvia jopa 1920 x 1080 resoluutiolla.

Optiikka, jossa pitkä työetäisyys (LWD): LWD-optiikka tarjoaa enemmän tilaa kohteen ja mikroskoopin välille.

Ohjelmistotriggeri: Mahdollistaa liikeanalyysin säätämällä livekuvan ruututaajuutta 1–20 ruutua sekunnissa.

Parannettu joustava LED-ohjaus (eFLC): eFLC säätää kahden LED-neljännesryhmän valonvoimakkuutta 32 tasolla kullekin.

Säädettävä polarisaatiosuodatin: Poistaa heijastukset kohteen pinnalta.

Laajennettu dynaaminen alue (EDR): Paljastaa yksityiskohtia tummilla tai kirkkailla alueilla.

Automaattinen suureluku (AMR): Tunnistaa suureuden automaattisesti.

Kestävä metallikotelo: Anodisoitu alumiinikotelo, joka on kestävä ja tarjoaa EMI-suojauksen.

Lisätiedot

Tuotetyyppi

Mikroskop

Suurennus

Belysning

Hvide LEDer

Fokusafstand

Langt

Opløsning

2,0 Mpixel

Polarisator

Polarisator

Metallikotelo

Liitäntä

Specialfunktioner

AMR, EDR, eFLC

Arviot

Tuotearvioita ei vielä ole.

Kirjoita ensimmäinen arvio tuotteelle “Dino-Lite EDGE Global Shutter, 2,0 megapikseliä, pitkä etäisyys, mittausominaisuus, automaattinen suurennuksen lukeminen, eFLC, EDR, polarisaatio, metalli”

Your email address will not be published. Required fields are marked *